18 juin 2014 | Conférence Scientific Visual sur le contrôle qualité du saphir - Scientific Visual

• 07 août 2026
• 100%
• Durée indéterminée
• Geneva

Éliminer les approximations dans la production de saphir : de la détection précoce des défauts aux normes de qualité.

Contrôle des défauts matière dans le saphir : de la détection automatique avant et après polissage à l-établissement d-une norme de qualité.

Actuellement, l-inspection des défauts des verres de montre en saphir s-effectue après l-ensemble du traitement - c-est-à-dire la découpe, la tranche, le meulage et le polissage jusqu-à la transparence. Environ 10 à 15 % des verres sont rejetés après traitement en raison de défauts internes du matériau tels que des fissures ou des bulles qui se forment lors de la cristallisation. Par conséquent, une usine typique de saphir consacre une demi-journée par semaine au polissage des déchets.

Et si l-on pouvait rendre ces défauts invisibles visibles avant les étapes coûteuses de traitement ?

Des postes de travail automatiques basés sur un liquide à indice de réfraction adapté permettent une détection précoce des défauts et garantissent que seul un matériau de haute qualité et adapté entre dans la chaîne de valeur. Contrairement à l-inspection oculaire humaine, le contrôle qualité automatique établit une norme objective et assure un retour diagnostic rapide durant les étapes de production. À l-instar du traitement du diamant il y a quelque temps, l-industrie du saphir est aujourd-hui à l-aube d-établir un système commun et indépendant de l-observateur pour la classification de la qualité, qui améliore de manière rentable les marges des fabricants et rationalise la chaîne d-approvisionnement. Lors de cette conférence, nous partageons le fonctionnement de ce système ainsi que les résultats des projets pilotes et nos données accumulées lors des études de contrôle qualité du saphir en phase précoce. De plus, nous montrons comment cette technologie peut bénéficier à l-industrie suisse du saphir et de la montre en termes de réduction des coûts et d-amélioration de la compétitivité. Date : Lieu : Palexpo Hall S, Genève, Suisse Intervenants : Ivan Orlov (CEO) et Benedict Stalder (VP Sales) Scientific Visual SA, Lausanne La conférence est donnée simultanément en anglais et en français. Flyer de la conférence La conférence est organisée par le salon EPHJ-2014. Cet article concerne un événement passé. Abonnez-vous pour recevoir les annonces futures : [podioform appid=-8313675- formid=-620914-]